Поиск

Конференция, организованная ФГУП «МНИИРИП» при поддержке Министерства промышленности и торговли Российской Федерации, состоялась 23–24 мая 2018 года в г. Мытищи,Московской области. Участники мероприятия обсуждали проблемы испытанийэлектронной компонентной базы (ЭКБ) отечественного и импортного производства, возможности и перспективы их оптимизации путем создания специализированного интегрированногоинформационного центра.

В конференции приняли участие более 200 представителей предприятий–разработчиков, изготовителей, поставщиков и потребителей ЭКБ, Министерства обороны Российской Федерации,ГК «Росатом», ГК «Роскосмос», интегрированных структур и  испытательных центров.

Министерство промышленности и торговли Российской Федерации представлял Директор Департаменте радиоэлектронной промышленности Хохлов Сергей Владимирович.  

Общий контекст конференции был задан докладом директора ФГУП «МНИИРИП» ПавлаПавловича Куцько. В его докладе был дан анализ состояния и определены ключевые проблемы организации и проведения испытаний ЭКБ. Главной темой обсуждения стало создание единого интегрированного центра организации и проведения испытаний ЭКБ. Докладчик определил цели, задачи и предложил форматы цифровых баз данных, создаваемых и управляемых в центре, процедуры их использования для организации и проведения испытаний ЭКБ.  

Особое внимание в выступлении начальника управления ФГУП «МНИИРИП»Подъяпольского Сергея Борисовичабыло уделено проблемам создания Центра анализа отказовЭКБ, как элемента системы управления качеством и надёжностью ЭКБ для РЭА ВВСТ с широким привлечением в его работе специалистов разработчиков и изготовителей элементной базы и аппаратуры.  

По вопросу обнаружения наличия признаков контрафакта ЭКБ, проблемам применения фальсифицированных электронных изделийвыступилаМария АлександровнаЕгорова – первый заместитель руководителя Центрального органа СДС «Военный Регистр».

В своём выступленииСергей Сергеевич Милосердов–заместитель начальника управления филиала «46 ЦНИИ» МО РФ, затронулвопросы задания требований Министерства обороныРоссийской Федерациик эксплуатационным характеристикам ЭКБ.

Вопросы подтверждения соответствия эксплуатационных характеристик ЭКБ условиям применения в радиоэлектронной аппаратуре осветил в своем выступлении Роман Григорьевич Левин – первый заместитель генерального директора АО «РНИИ «Электронстандарт».

В выступлениях Ивана Михайловича Малая – заместителя генерального директора ФГУП «ВНИИФТРИ», Виктора Николаевича Храменкова и Дмитрия Михайлович Щеглова – представителей ФГБУ «ГНМЦ» МО РФ, были обсуждены вопросы состояния и перспектив развития средств метрологического обеспечения испытаний ЭКБ.

В ходе выступлений руководителей и представителей АО «Российские космические системы», АО «Концерн ВКО «Алмаз Антей», группы «ФОРМ», ООО «Научно-исследовательский институт «АСОНИКА», ЯОК ГК «Росатом», Института экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ», АНО «Военный Регистр» были подняты вопросы требований к высоконадежной ЭКБ космического назначения, качества и надежности разрабатываемой и производимой ЭКБ, создания отечественных автоматизированных средствах измерений, виртуальных испытаний ЭКБ, единой информационной системы управления качеством и надёжностью ЭКБ,а так же проблемы, с которыми сталкиваются испытательные подразделения.

В заключительной части конференции выступили генеральный директор АО «ЗНТЦ» Анатолий Андреевич Ковалев с предложением о создании Центра каталогизации топологических решений ЭКБ в целях обеспечения защиты информации и повышения надежности изделий.

В ходе проведённой дискуссии и обмена мнениями по поднятым актуальным проблемам, определён единый подход и понимание в направлениях создания единой информационной цифровой базы данных возможностей испытательных подразделений радиоэлектронной отрасли. Участники конференции поддержали инициативу по созданию информационной площадки, содержащей цифровую информацию для обеспечения повышения эффективности, качества в ходе организации и проведения испытаний ЭКБ и РЭА. Намеченные направления и пути их реализации позволят консолидировать предприятия разработчиков и производителей ЭКБ и РЭА, шире привлечь к этой работе специалистов, организовать системные работы в области управления качеством и анализа отказов ЭКБ для РЭА ВВСТ.

По результатам обсуждений проблем и вопросов, поднятых на конференции,будет сформирован протокол, содержащий план мероприятий, направленных на реализацию решений, принятых в рамках конференции.


Отдел продаж:

+7(495) 481-33-47

sales@optochip.org

Техническая поддержка:

+7 (495) 268-07-10

support@optochip.org

Служба контроля качества:

+7 (495) 481-33-47 доб. 123

info@optochip.org

© ООО «ОПТОЧИП», 2017-2018. Политика конфиденциальности. 125464, РФ, г. Москва, Пятницкое ш., д.16